理學波長色散XRF ZSX Primus III+在軟磁材料中的應用

更新時間：2023-09-12 | 點擊率：1728

波長色散型X射線熒光光譜儀

軟磁材料即具有低矯頑力和高磁導率的磁性材料。軟磁材料易于磁化，也易于退磁，廣泛用于電工設備和電子設備中。其發(fā)展促進了我國移動通訊、光伏新能源、新能源汽車及其充電設施、云計算、大數(shù)據(jù)、人工智能等新興產(chǎn)業(yè)的發(fā)展，也使家用電器、電腦及其外設、節(jié)能照明、電磁兼容、工業(yè)自動化等傳統(tǒng)產(chǎn)業(yè)長久不衰。

高純氧化鐵是生產(chǎn)軟磁材料的主要原料，氧化鐵中主成分和雜質(zhì)元素的含量直接影響該產(chǎn)品的質(zhì)量和級別。該材料主量氧化鐵含量在 99.x％，雜質(zhì)Al2O3等含量低達 0.00x％。傳統(tǒng)采用ICP方法檢測氧化鐵中SO4 2-、CaO、SiO2、Al2O3、MnO，采用化學法測定Fe2O3 、 Cl -的含量。整個分析過程工作量大、周期長、人為誤差大。XRF法具有能測定主量氧化鐵和微量雜質(zhì)，且簡便快速、成本低、人為誤差小的優(yōu)勢，在對軟磁鐵氧體的分析中應用廣泛。

由于主量元素高達 99．x％，要求分析精度相當高，而次量元素皆輕元素，SiO2、A12O3只有幾十ppm，又要求多元素連續(xù)測定，粉末壓片法是唯yi可選辦法。由于直接壓片成型率低及主量元素精度較差，故采用加入粘結劑。

日本理學ZSX Primus III+采用上照式方式即光管在樣品上方，能夠避免粉末壓片樣品上的粉末微塵掉落到光管以及分光室中，造成損壞，確保了儀器的安全。

ZSX Primus III+波長色散X熒光光譜儀

為驗證方法的精密度，在一倜月內(nèi)的不同日期、不同操作人員對3個樣品各進行了15次測量，每次間隔1～10天不等，結果如下。

不同樣品、日期及不同操作人員分析結果

樣品號	CaO	SiO₂	Al₂O₃	MnO	Cl^-	SO₄^2-	Fe₂O₃
1化學值	0.017	0.007	0.004	0.23	0.23	0.014	99.30
標準偏差	0.0007	0.0015	0.0015	0.0013	0.0067	0.0019	0.038
2化學值	0.017	0.007	0.004	0.23	0.13	0.0127	0.0127
標準偏差	0.0008	0.0015	0.0021	0.001	0.0085	0.0014	0.038
3化學值	0.017	0.009	0.002	0.25	0.07	0.011	99.40
標準偏差	0.0005	0.00074	0.0019	0.001	0.0084	0.0015	0.022

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理學波長色散XRF ZSX Primus III+在軟磁材料中的應用