X射線熒光膜厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

  搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。

  檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。

  外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都沒有難度，讓操作人員輕松自如。

應(yīng)用領(lǐng)域

  線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

  鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

  手表、精密儀表制造行業(yè)

  釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

  衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  電鍍液的金屬陽離子檢測

X射線熒光膜厚儀

性能優(yōu)勢：

  下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm.

  微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

  高效率的接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌：快速

XTU系列測厚儀雖然結(jié)構(gòu)緊湊，但是都有大容量的開槽設(shè)計(jì)樣品腔，即使超過樣品腔尺寸的工件也可以測試。

  搭配微聚焦射線管和*光路設(shè)計(jì)，以及變焦算法裝置，可測試極微小和異形樣品。

  檢測78種元素鍍層·0.005um檢出限·小測量面積0.002mm2·深凹槽可達(dá)90mm。

  外置的高精密微型滑軌，可以快速控制樣品移動(dòng)，移動(dòng)精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的樣品測試都沒有難度，讓操作人員輕松自如。

應(yīng)用領(lǐng)域

  線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測

  鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析

  手表、精密儀表制造行業(yè)

  釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB        

  汽車、五金、電子產(chǎn)品等緊固件的表面處理檢測

  衛(wèi)浴產(chǎn)品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)

  電鍍液的金屬陽離子檢測

性能優(yōu)勢：

  下照式設(shè)計(jì)：可以快速方便地定位對焦樣品。

  無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm.

  微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

  高效率的接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

  精密微型滑軌：快速定位樣品。

  EFP*算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。

項(xiàng)     目 參        數(shù)
測量元素范圍 Cl（17）-U（92）
涂鍍層分析范圍 各種元素及有機(jī)物
分析軟件 EFP，可同時(shí)分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析
軟件操作 人性化封閉軟件，自動(dòng)提示校正和步驟，避免操作錯(cuò)誤
X射線裝置 W靶普通射線管
準(zhǔn)直器 ? 0.2 mm  ；? 0.5 mm；準(zhǔn)直器任意選擇一種
近測距光斑擴(kuò)散度 10%
測量距離 具有距離補(bǔ)償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能
對焦方式 高敏感鏡頭，手動(dòng)對焦
放大倍數(shù) 光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍
樣品臺(tái)尺寸 500mm*360mm
移動(dòng)方式 高精密XY手動(dòng)滑軌
可移動(dòng)范圍 50mm*50mm
隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機(jī)、附件箱

定位樣品。

  EFP*算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。